[发明专利]OLED显示器实际应用环境下的残影时间评测方法在审
申请号: | 202210639769.2 | 申请日: | 2022-06-09 |
公开(公告)号: | CN115424579A | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 段瑜;杨启鸣;芶国汝;钱福丽;王永宏;毛智民;秦国辉;王体炉 | 申请(专利权)人: | 云南北方奥雷德光电科技股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/3208 | 分类号: | G09G3/3208 |
代理公司: | 昆明祥和知识产权代理有限公司 53114 | 代理人: | 张亦凡 |
地址: | 650223 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | OLED显示器实际应用环境下的残影时间评测方法,属于OLED显示器残影评测技术领域,具体为一种OLED显示器在实际应用环境下的残影时间评测方法。本发明的方法首先基于黑白棋盘格显示下的残影出现时间,结合OLED显示器实际使用模式和外界温度进行实际应用环境下的器件残影时间的推算。本发明的方法解决了现有的OLED显示器残影出现时间的评估方法中存在的脱离实际应用环境的问题,考虑实际应用环境的影响提出了一套科学合理的残影出现时间的评估方法。 | ||
搜索关键词: | oled 显示器 实际 应用 环境 时间 评测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于云南北方奥雷德光电科技股份有限公司,未经云南北方奥雷德光电科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210639769.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。