[发明专利]多天线辐射杂散测试系统在审
| 申请号： | 202210634881.7 | 申请日： | 2022-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN115037389A | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | 杨红波;陈俊飞;熊麟彪;杨邦;廖斌 | 申请（专利权）人： | 扬芯科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/10 | 分类号： | H04B17/10;H04B17/15;H04B17/29;H04B7/0404 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 潘登 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种多天线辐射杂散测试系统。该多天线辐射杂散测试系统包括天线微波箱、控制装置、频谱采集装置、通讯装置以及上位机；天线微波箱包括测试箱体；测试箱体内包括八个双极化天线和通讯天线；测试箱体形状为立方体，每一双极化天线分别设置于测试箱体的八个内部顶点，通讯天线设置于测试箱体内，并且每一双极化天线和通讯天线均指向测试箱体的内部中心点；天线微波箱八个内部顶点处设置的每一双极化天线均与控制装置连接，通讯天线与通讯装置连接，控制装置分别与频谱采集装置和上位机连接，频谱采集装置与上位机连接；本方案可以全方位自动检测待测设备的杂散信号，从而减小对待测设备的检测时效，提高对待测设备的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 辐射 测试 系统 | ||
【主权项】：
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