[发明专利]一种光学类跟瞄单机半物理闭环测试系统及方法在审
| 申请号： | 202210523120.4 | 申请日： | 2022-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN114995187A | 公开（公告）日： | 2022-09-02 |
| 发明（设计）人： | 李同顺;刘礼城;卢山;刘昌昊;龚思进;朱文山;徐晨;王焕杰 | 申请（专利权）人： | 上海航天控制技术研究所 |
| 主分类号： | G05B17/02 | 分类号： | G05B17/02 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 马全亮 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种光学类跟瞄单机半物理闭环测试系统及方法，测试系统的组成包括：光学类跟瞄单机、星载控制计算机、动力学仿真机、光学类跟瞄单机模拟器、模拟数管计算机、遥测显示终端计算机、数据库及电源。测试方法的步骤包括：半物理闭环测试系统搭建、地面设备及星载控制计算机运行、光学类跟瞄单机输出测量数据、光学类跟瞄单机测量数据接入半物理闭环测试系统和光学类跟瞄单机闭环半物理测试方法性能评估。本发明利用光学类跟瞄单机模拟器，对内部算法的功能进行有效性的验证，此外，将单机数据通过该套半物理闭环测试系统接入控制系统闭环，对单机与控制系统的匹配性及控制系统的性能及鲁棒性进行充分的测试，可用于在轨服务任务地面半物理闭环测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 单机 物理 闭环 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天控制技术研究所，未经上海航天控制技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210523120.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
