[发明专利]一种选区激光熔化分区搭接优化扫描方法及系统有效

专利信息
申请号: 202210515536.1 申请日: 2022-05-11
公开(公告)号: CN114888306B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 魏青松;刘演冰;滕庆;张海洲;马瑞;白洁;郑俊超 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: B22F10/366 分类号: B22F10/366;B22F10/28;B22F12/00;B22F10/85;B22F12/90;B33Y10/00;B33Y30/00;B33Y50/02
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 刘洋洋
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种选区激光熔化分区搭接优化扫描方法及系统,属于选区激光熔化技术领域,该方法实时分析当前层扫描后的温度分布,从中采集分区搭接区域的异常温度值;若异常温度值偏低,则增加下一层此处搭接长度;若异常温度值偏高,则首先分析该温度偏高分区搭接区域的宽度,对于分区搭接区域在预设第一阈值内的,减小下一层此处扫描激光功率,而对于分区搭接区域在预设第一阈值以上的,在减小激光功率的同时减小下一层此处的搭接长度;进一步结合反馈调节机制持续优化下一层分区搭接扫描参数。本发明基于温度反馈持续优化分区搭接扫描参数消除其异常温度,提高搭接质量,避免局部缺陷的产生。
搜索关键词: 一种 选区 激光 熔化 分区 优化 扫描 方法 系统
【主权项】:
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