[发明专利]面向指向精度和覆盖需求的多星联合标校方法有效

专利信息
申请号: 202210477060.7 申请日: 2022-05-02
公开(公告)号: CN114866131B 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 何元智;贾亦真 申请(专利权)人: 军事科学院系统工程研究院网络信息研究所
主分类号: H04B7/185 分类号: H04B7/185
代理公司: 北京丰浩知识产权代理事务所(普通合伙) 11781 代理人: 李学康
地址: 100141 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种面向指向精度和覆盖需求的多星联合标校方法,具体为:各卫星分别生成一组标校波束并发送至地面标校站;各地面标校站计算标校波束组指向偏差,发送到控制中心;控制中心判断当前指向偏差是否满足精度阈值,对于不满足的情况,则调用卫星指向补偿量生成算法,计算各卫星指向补偿量,并发送至卫星测控站;卫星测控站根据指向补偿量调整卫星姿态;卫星通信系统重复上述步骤,直至指向偏差满足精度阈值。本发明的优点为:能够实现高精度、高覆盖率和低重叠率的多星联合标校;通过星地闭环反馈进行多星联合标校,确保卫星指向满足系统规定的指向精度需求。
搜索关键词: 面向 指向 精度 覆盖 需求 联合 校方
【主权项】:
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