[发明专利]半导体器件模型测试数据的处理方法和装置在审
| 申请号： | 202210476033.8 | 申请日： | 2022-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN114781311A | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 徐俊义;张凤英;于萌 | 申请（专利权）人： | 上海概伦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/39 | 分类号： | G06F30/39 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国(上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体器件模型测试数据的处理方法和装置。其中半导体器件模型测试数据的处理方法具体包括：通过获取针对半导体器件执行测试的数据源集，将数据源集存储至嵌入式数据库；其中，数据源集包括：测试数据集、仿真数据集、源筛选数据集的一种或者多种；根据嵌入式数据库存储的数据源集，通过预设数据呈现条件，预设显示界面一个或者多个预设数据呈现条件的选项，查看、提取数据源集，生成自定义数据集并呈现，以及基于自定义数据集对半导体器件的器件模型进行拟合。实现提取的自定义数据集的图形绘制、模型提取，通过测试数据集的实时更新，进行反复的迭代验证，得到可靠的模型提取参数。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 模型 测试数据 处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
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