[发明专利]单元测试方法及装置、存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202210460617.6 | 申请日： | 2022-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN114860589A | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 牙祖将;袁青星 | 申请（专利权）人： | 中国银行股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟 |
| 地址： | 100818 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种单元测试方法及装置、存储介质及电子设备，可应用于金融领域或其他领域。该方法包括：当需要对应用软件进行单元测试时，在预先设置的多个逻辑节点中，确定各个目标逻辑节点，并确定每个目标逻辑节点对应的节点关联关系和测试案例编号；判断应用软件的软件版本是否为初始版本，若是，则依据每个目标逻辑节点对应的测试案例编号，确定每个目标逻辑节点对应的测试案例；依据各个目标逻辑节点对应的节点关联关系，确定每个目标逻辑节点对应的测试案例的执行顺序；按照各个测试案例的执行顺序，依次执行各个测试案例，完成单元测试过程。应用本申请的方法，可实现自动化的单元测试，可减少人工处理过程，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 单元测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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