[发明专利]一种可调节测试通道的测试装置在审
| 申请号： | 202210452359.7 | 申请日： | 2022-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN114545191A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 吴浩;高海峰;王瑞朋 | 申请（专利权）人： | 深圳市西渥智控科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H05K7/20;G01R1/04;H01L21/66;H01L33/00 |
| 代理公司： | 长沙都创云天知识产权代理事务所(普通合伙) 43274 | 代理人： | 夏轩 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街道黄*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种可调节测试通道的测试装置，包括机箱、总线背板、主卡以及多个卡槽结构与功能卡，所述总线背板安装在所述机箱内，所述卡槽结构插入所述机箱内，每个所述功能卡装载在对应的一个所述卡槽结构上，并通过所述总线背板与所述主卡信号连接；其中，所述功能卡的数量小于或者等于所述卡槽结构的数量，每个所述功能卡具有多个测试通道；依据测试要求配置所述功能卡的数量，以将每个所述测试通道配置为与一个外置的探针卡信号连接。本发明提供的技术方案解决相关技术中测试装置测试效率低、兼容性差且容易造成资源浪费的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 调节 测试 通道 装置 | ||
【主权项】：
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