[发明专利]一种柔性薄膜高均匀接触式对准曝光装置在审

专利信息
申请号: 202210445026.1 申请日: 2022-04-26
公开(公告)号: CN114879452A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 高国涵;杜俊峰;边疆;范斌;雷柏平;吴时彬;刘鑫;汪利华;石恒;杨虎 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 邓治平
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供了一种柔性薄膜高均匀接触式对准曝光装置,包括腔体骨架、隔振底座、光学窗口、光掩膜版、柔性薄膜、六自由度平台、压圈支架、柔性压圈、升降机构、旋转机构、万向节、显微镜位移台和显微镜。腔体骨架和隔振底座连接构成真空腔体,六自由度平台和升降机构均与腔体骨架连接。光学窗口嵌于隔振底座对光掩膜版起支撑作用。柔性薄膜由薄膜支架支撑并与六自由度平台连接。压圈支架向上依次连接万向节、旋转机构和升降机构,向下连接柔性压圈。显微镜通过显微镜位移台与压圈支架连接。本发明降低传统接触式光刻机不均匀的空气间隙,提高曝光分辨率;减小传统真空贴附方法对薄膜造成的变形,提高对准套刻精度。
搜索关键词: 一种 柔性 薄膜 均匀 接触 对准 曝光 装置
【主权项】:
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