[发明专利]用于电力管理集成电路(PMIC)的偏置测试的自动上电模式有效

专利信息
申请号: 202210423939.3 申请日: 2022-04-21
公开(公告)号: CN115240754B 公开(公告)日: 2023-05-05
发明(设计)人: W·A·伦德沃伊 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56;G11C29/00;G11C29/54
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 赵子杰
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请涉及用于电力管理集成电路(PMIC)的偏置测试的自动上电模式。一种系统可将存储器系统的PMIC编程到特定模式。所述模式可使所述PMIC在接收到电力后将偏置施加到所述存储器系统的存储器装置,并且与将所述偏置施加到所述存储器装置的命令无关。所述系统可在阈值时间内控制一或多个操作条件(例如,温度、湿度)的同时将电力传输到所述存储器系统。所述PMIC可基于所述PMIC被编程到所述模式和所传输电力而在所述阈值时间期间将偏置施加到所述存储器装置。所述系统可标识由于在所述阈值时间内控制所述操作条件的同时将所述电力传输到所述存储器系统而产生的所述存储器装置的能力或缺陷。
搜索关键词: 用于 电力 管理 集成电路 pmic 偏置 测试 自动 模式
【主权项】:
暂无信息
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