[发明专利]一种显微镜的自动对焦及自动识别测量方法在审
| 申请号： | 202210412635.7 | 申请日： | 2022-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN114967099A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 易宏;程立强;陈勇达;丁明利;邓成亮;冯文;李小红;朱国庆;王凤;胡力主 | 申请（专利权）人： | 广州广检技术发展有限公司 |
| 主分类号： | G02B21/36 | 分类号： | G02B21/36;G02B7/36 |
| 代理公司： | 广州海石专利代理事务所(普通合伙) 44606 | 代理人： | 邵穗娟 |
| 地址： | 510000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种显微镜的自动对焦及自动识别测量方法，该自动对焦及自动识别测量方法旨在解决现有技术下在对焦时需要先计算出焦面位置，然后通过对焦装置移动至该位置，对焦操作的步骤较为复杂，且只能对显微镜进行对焦，而不能自动识别测量，功能单一的技术问题。该自动对焦及自动识别测量方法，其步骤如下：S1：建立对焦窗口；S2：确定显微镜系统的正焦位置；S3：对数字图像进行预处理；S4：图像滤波；S5：二值化处理；S6：边缘检测处理；S7：完成自动测量。该自动对焦及自动识别测量方法在对焦时，对焦的方式简单，且基于图像处理技术，自动识别测量，并且采集三组数据，最后以三组数据的平均值为输出结果，测量结果的精度更准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显微镜 自动 对焦 自动识别 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州广检技术发展有限公司，未经广州广检技术发展有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210412635.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：分布式主动控制系统
- 下一篇：聚档优化方法、电子设备及计算机可读存储介质
