[发明专利]单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法在审
申请号: | 202210402727.7 | 申请日: | 2022-04-18 |
公开(公告)号: | CN114509669A | 公开(公告)日: | 2022-05-17 |
发明(设计)人: | 桂斌;李名银;刘震;张友华;曾肖辉 | 申请(专利权)人: | 华邦创科(惠州市)智能科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/327 | 分类号: | G01R31/327 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 516000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法,包括:多个IGBT开关组、第一吸收电路、第二吸收电路、IGBT电压检测单元、MCU控制单元及继电器控制单元,在一个IGBT开关组中,IGBT开关组包括IGBT开关单元及IGBT驱动电路,IGBT开关单元的输入端用于接入交流电的火线,IGBT开关单元的输出端分别与第二吸收电路的输入端和IGBT电压检测单元的一输入端电连接,第二吸收电路的输出端与IGBT电压检测单元电连接,并且IGBT电压检测单元还用于检测零线和火线之间的电压;第一吸收电路与IGBT开关单元并联连接,MCU控制单元还分别与IGBT电压检测单元、IGBT驱动电路和继电器控制单元电连接。本申请可以提高IGBT开关装置的检测能力,进而提高IGBT开关装置的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 单相 智慧 用电 保护 igbt 开关 损坏 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
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