[发明专利]单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 202210402727.7 申请日: 2022-04-18
公开(公告)号: CN114509669A 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 桂斌;李名银;刘震;张友华;曾肖辉 申请(专利权)人: 华邦创科(惠州市)智能科技有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 516000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种单相智慧用电保护器的IGBT开关损坏检测装置及检测方法,包括:多个IGBT开关组、第一吸收电路、第二吸收电路、IGBT电压检测单元、MCU控制单元及继电器控制单元,在一个IGBT开关组中,IGBT开关组包括IGBT开关单元及IGBT驱动电路,IGBT开关单元的输入端用于接入交流电的火线,IGBT开关单元的输出端分别与第二吸收电路的输入端和IGBT电压检测单元的一输入端电连接,第二吸收电路的输出端与IGBT电压检测单元电连接,并且IGBT电压检测单元还用于检测零线和火线之间的电压;第一吸收电路与IGBT开关单元并联连接,MCU控制单元还分别与IGBT电压检测单元、IGBT驱动电路和继电器控制单元电连接。本申请可以提高IGBT开关装置的检测能力,进而提高IGBT开关装置的可靠性。
搜索关键词: 单相 智慧 用电 保护 igbt 开关 损坏 检测 装置 方法
【主权项】:
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