[发明专利]自动化检测方法、单板、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202210356511.1 | 申请日: | 2022-03-30 |
公开(公告)号: | CN116938779A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 张二芬 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04L43/50 | 分类号: | H04L43/50;H04Q1/20;H04Q1/22;H04Q1/02;H04L45/60 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 涂超群 |
地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及通信领域,公开了一种自动化检测方法、单板、电子设备及存储介质,方法包括:接收主控单板下发的硬件自检指令;根据硬件自检指令,加载预先缓存的工装自检补丁包;其中,工装自检补丁包中包括预先打包的硬件自检脚本;根据预设程序进行重启进入工装自检模式,根据硬件自检脚本进行硬件自检,并向主控单板反馈自检结果。通过将包含硬件自检脚本的工装自检模式的版本文件以补丁包的形式存储在单板上,使得工装自检版本能够独立发布和维护,实现自检版本与商用本版的解耦;在接收到硬件自检指令后,单板根据工装自检补丁包完成硬件自检模式的切换,并根据硬件自检脚本在无需主控单板控制的情况下,简单高效的实现单板粒度的硬件自检。 | ||
搜索关键词: | 自动化 检测 方法 单板 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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