[发明专利]光电检测装置、其测试方法及减少暗电流影响的方法在审
| 申请号： | 202210349796.6 | 申请日： | 2020-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN114690199A | 公开（公告）日： | 2022-07-01 |
| 发明（设计）人： | 阿里尔·达南;俄梅尔·卡帕奇;乌利尔·利维;乌拉罕·巴卡尔;纳达夫·梅拉穆德;约尼·普罗斯珀·沙利波;罗尼·多布林斯基;希莱尔·希莱尔 | 申请（专利权）人： | 趣眼有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89;G01S17/894;G01S7/484;G01S7/4861;G02B6/42 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 吕姝娟 |
| 地址： | 以色列特*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了光电检测装置、其测试方法及减少暗电流影响的方法，涉及红外光子学中使用的电光器件及激光器。所述光电检测装置包括：有源感光位点，包括有源光电二极管；参考感光位点，包括参考光电二极管；第一电压控制电流电路，由电压控制电流源或电压控制电流汇组成，所述第一电压控制电流电路耦接到所述有源光电二极管；及控制电压生成电路，被耦合到所述有源电压控制电流电路及所述参考感光位点，并被用于向所述电压控制电流电路提供一控制电压，所述控制电压具有电压电平，所述电压电平响应于所述参考光电二极管的暗电流，以减少所述有源光电二极管的暗电流对所述有源感光位点的输出的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 检测 装置 测试 方法 减少 电流 影响 | ||
【主权项】：
暂无信息
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