[发明专利]定位性能的测试方法、设备、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210348847.3 申请日: 2022-04-01
公开(公告)号: CN116939634A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 陶成健;林生 申请(专利权)人: 北京小米移动软件有限公司
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00;H04W64/00;G01S5/00
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 卢夏子
地址: 100085 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本公开涉及一种定位性能的测试方法、设备、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:通过待检测设备与参照设备之间建立的定位通讯,监控所述待检测设备与所述参照设备之间的位姿数据,控制所述待检测设备相对于所述参照设备按照预设规则进行位姿变换,根据所述预设规则确定所述待检测设备与所述参照设备之间的参照位姿,以及根据所述定位通讯确定所述待检测设备与所述参照设备之间的目标位姿,根据所述目标位姿与所述参照位姿,确定所述待检测设备的定位性能。从而实现移动终端的短距离定位性能测试,避免了通过定位基站进行定位性能检测导致定位性能判定不准确的问题。
搜索关键词: 定位 性能 测试 方法 设备 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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