[发明专利]一种单元测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210302354.6 | 申请日： | 2022-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN114579470A | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 巴建祥 | 申请（专利权）人： | 创优数字科技（广东）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 陈嘉雯 |
| 地址： | 516000 广东省广州市海珠区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种单元测试方法、装置、电子设备及存储介质，用于解决现有的单元测试方法开销过大的技术问题。本发明包括：在预设业务中确定待测试单元和所述待测试单元的依赖单元；获取所述待测试单元的测试数据；创建所述依赖单元的mock对象，以模拟执行所述依赖单元；采用所述测试数据和所述mock对象测试所述待测试单元，得到测试结果。本发明通过创建待测试单元的依赖单元的mock对象，来模拟依赖单元的执行以获取待测试单元需要的返回数据，并结合测试数据对待测试单元进行测试，从而无需执行依赖单元的执行流程，减少了单元测试的执行过程，简化了测试程序，降低了单元测试的开销。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单元测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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