[发明专利]一种马赫曾德尔调制器半波电压的测试方法有效
| 申请号： | 202210291049.1 | 申请日： | 2022-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN114814331B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 张尚剑;衡英杰;徐映;朱峻峰;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种马赫曾德尔调制器半波电压的测试方法。本发明中激光器输出的光载波进入待测马赫曾德尔调制器，一个正弦电信号加载到待测马赫曾德尔调制器的调制端，另一个正弦电信号加载到待测马赫曾德尔调制器的偏置端，调制后的光信号进入光电探测器进行拍频，改变待测马赫曾德尔调制器偏置端加载电信号的幅度平均值，得到两组频谱图，对两组频谱图中的数据进行分析得到待测马赫曾德尔调制器的调制系数，进而得到其半波电压。该方法适用于任意分光比的马赫曾德尔调制器，而且可以分别测试马赫曾德尔调制器调制端和偏置端的半波电压，具有装置简单、操作方便、分辨率高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 马赫 曾德尔 调制器 电压 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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