[发明专利]可精确定位的测试座在审
| 申请号： | 202210258461.3 | 申请日： | 2022-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN114646784A | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 戴世丰;阙石男 | 申请（专利权）人： | 苏州艾方芯动自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 王文彬 |
| 地址： | 215000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请涉及晶片测试的领域，尤其是涉及一种可精确定位的测试座，其包括：测试座本体、设于该测试座本体上的浮动板、以及设于该测试座本体侧边的侧推装置；该侧推装置具有可相对于该测试座本体水平移动的侧推元件，以及对该侧推元件施加作用力的施力元件，其中，当将晶片放入该浮动板上的晶片测试部中时，借由该施力元件对该侧推元件施加的作用力使侧推元件的推掣端在侧边方向推动该晶片，进而使该晶片在晶片测试部中定位。 | ||
| 搜索关键词： | 精确 定位 测试 | ||
【主权项】：
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