[发明专利]介质界面光学传感器及其检测方法有效
申请号: | 202210254644.8 | 申请日: | 2022-03-16 |
公开(公告)号: | CN114354547B | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 徐进勇;王乐然;彭德义;余鑫;孙傲;王彤 | 申请(专利权)人: | 成都理工大学 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55;G01N21/59 |
代理公司: | 成都正德明志知识产权代理有限公司 51360 | 代理人: | 雷正 |
地址: | 610059 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种介质界面光学传感器及其检测方法,包括用于容纳流体介质以形成待监测介质界面的流体管路;流体管路上设有对射式光学结构和全反射式光学结构,全反射式光学结构位于对射式光学结构的下方,且全反射式光学结构和对射式光学结构的输入端均与光源电源电连接,全反射式光学结构和对射式光学结构的输出端与控制器信号连接。本发明设置对射式光学结构和全反射式光学结构,利用光的对射原理和全反射原理的配合,实现在通明介质和不透光介质的情况下对被监测介质界面位置进行准确的监测,检测可靠性高,还能应对各种物理属性不同的介质情况,应用范围广,且本发明整体结构简单,可以基于原有光学传感器的改造,简易便行。 | ||
搜索关键词: | 介质 界面 光学 传感器 及其 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都理工大学,未经成都理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210254644.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。