[发明专利]星载微波辐射计天线发射率的在轨测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202210247059.5 | 申请日： | 2022-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN114636867A | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 董克松;何嘉恺;徐红新;姜丽菲;刘记辰 | 申请（专利权）人： | 上海航天测控通信研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01C21/02 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种星载微波辐射计天线发射率的在轨测试系统及测试方法，测试系统包括辐射亮温接收模块、辐射亮温定标模块、在轨定位模块、机动模块、数据应用模块；主要应用于计算星载微波辐射计在轨的天线发射率参数，从而解决天线发射率及其在轨时变情况难以测准的问题。在卫星在轨飞行过程中，通过调整卫星飞行姿态，使星载微波辐射计的天线观测冷空，对比微波辐射计获得的冷空亮温观测值与辐射传输模型计算得到的冷空亮温理论值，计算天线的发射率，天线发射率的准确标定可以消除天线自辐射对微波辐射计系统定标精度的影响，有利于评估辐射计实际在轨定标效果，能有针对性的改善系统定标方案，进而提高星载微波辐射计的辐射测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 辐射计 天线 发射 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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