[发明专利]微环调制器波分复用光发射机的温控调节系统及调试方法有效

专利信息
申请号: 202210239013.9 申请日: 2022-03-11
公开(公告)号: CN114609729B 公开(公告)日: 2023-04-11
发明(设计)人: 王斌浩;韩溪林;鲍慎雷;张文富 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G02B6/293 分类号: G02B6/293;G02B6/42
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种微环调制器波分复用光发射机的温控调节系统及调试方法,以解决波分复用光发射机中的微环调制器在温度改变和调制过程中产热引起折射率的变化,及加工工艺误差,从而导致谐振峰偏移的技术问题。该系统包括依次级联的n个微环调制单元,微环调制单元包括微环调制器及依次相连的光电探测器、可调电阻、比较器、数模转换器;比较器用于接收相应微环调制器的输出电压信号及前一个微环调制器或波分复用光发射机输出端输出的电压信号。该方法包括1、获取波长的光功率补偿系数;2、获取可调电阻的阻值;3、实际使用时,计算比较器中接收的电压信号并判断和调节;4、加调制信号,循环监测微环调制器的谐振波长。
搜索关键词: 调制器 波分复 用光 发射机 温控 调节 系统 调试 方法
【主权项】:
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