[发明专利]一种基于紧缩场的毫米波相控阵天线幅相校准系统及方法在审
| 申请号： | 202210214629.0 | 申请日： | 2022-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN114566808A | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 宁宗贺;陈海波;王昕旸 | 申请（专利权）人： | 北京中测国宇科技有限公司 |
| 主分类号： | H01Q15/16 | 分类号： | H01Q15/16;H01Q19/12;H01Q3/30;H01Q1/50 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 102200 北京市昌平区沙*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于紧缩场的毫米波相控阵天线幅相校准系统及方法，包括多单元的待测相控阵天线，反射面、转台系统，直漏挡板、馈源天线，矢量网络分析仪、直流稳压电源、控制计算机以及测量暗室；校准系统通过紧缩场形成静区，待测相控阵天线位于静区内，该发明通过预先将相控阵天线以n个单元划分为一个子阵，并对相控阵天线每个子阵进行幅相调控，从而得到相控阵天线不同子阵的远场接收幅相信息，并根据得到的子阵幅相信息对每个子阵进行补偿，然后重复上述步骤对补偿后的相控阵天线进行二次校准，确定最终的校准数据。本发明能够在有效提高校准精度的同时，保证校准测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 紧缩 毫米波 相控阵 天线 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
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