[发明专利]用于试样的光片显微镜检测的方法和装置在审

专利信息
申请号: 202210200472.6 申请日: 2022-03-01
公开(公告)号: CN114994895A 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 曼努埃尔·安索尔;丹尼尔·哈斯;托马斯·卡尔克布伦纳;约根·西本摩根 申请(专利权)人: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
主分类号: G02B21/24 分类号: G02B21/24;G02B21/36;G02B21/06;G02B21/00;G06N3/04;G06N3/08;G01N21/01
代理公司: 北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493 代理人: 崔永华
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于试样的光片显微镜检测的方法,其中借助照明物镜用光片对试样进行照明,以及本发明涉及一种用于执行该方法的光片显微镜。由试样发射的光借助检测物镜成像到平面状检测器上。在此,检测物镜的光轴与照明物镜的光轴形成不同于0°和180°的角度并且在光片平面中穿过光片。平面状检测器拍摄至少一个图像。本发明还涉及一种相应的光片显微镜。根据本发明,借助神经网络通过分析至少一个图像来确定,(i)光片平面是否至少部分地处于检测物镜的焦平面中,和/或(ii)光片平面沿着检测物镜的光轴位于焦平面的哪个方向上,和/或(iii)沿着检测物镜的光轴测量,光片平面与焦平面距离多远。
搜索关键词: 用于 试样 显微镜 检测 方法 装置
【主权项】:
暂无信息
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