[发明专利]设备接口性能的测试方法及装置在审
申请号: | 202210173080.5 | 申请日: | 2022-02-24 |
公开(公告)号: | CN114546743A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 韩来;代金桔;董俊文 | 申请(专利权)人: | 杭州迪普科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/36 |
代理公司: | 北京金讯知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11554 | 代理人: | 黄剑飞 |
地址: | 310051 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本公开涉及一种设备接口性能的测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质。该方法包括:生成测试线程集合,所述测试线程集合中包括阶梯式分布的多个线程;基于所述测试线程集合生成测试请求集合;将所述测试请求集合中的测试请求依次发送至目标设备接口中;监测所述目标设备接口的特征参数以生成压力测试结果。本申请涉及的设备接口性能的测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质,通过压力测试找到设备接口的性能瓶颈,以此对接口设备服务器进行优化,提高上层平台到设备配置的下发速度,提升设备服务器性能和用户的体验。 | ||
搜索关键词: | 设备 接口 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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