[发明专利]超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路有效

专利信息
申请号: 202210168023.8 申请日: 2022-02-23
公开(公告)号: CN114553210B 公开(公告)日: 2023-09-08
发明(设计)人: 原蒲升;李凌云;王永良;汪书娜;余慧勤;尤立星 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: H03K19/0175 分类号: H03K19/0175;H03K19/195;G01R31/3177
代理公司: 上海泰博知识产权代理有限公司 31451 代理人: 钱文斌
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种超导电路与CMOS电路之间的跨温区互联系统、超导测试电路,超导测试电路包括CMOS电路与跨温区互联系统;跨温区互联系统包括衰减模块、放大模块和传输线链路;所述衰减模块的输入端用于连接CMOS电路,所述衰减模块的输出端用于连接所述超导电路;所述衰减模块用于将CMOS电路的CMOS逻辑电平转化处理为超导逻辑电平;所述放大模块的输入端用于连接所述超导电路,所述衰减模块的输出端用于连接所述CMOS电路;所述放大模块用于将超导电路的超导逻辑电平转化处理为CMOS逻辑电平;所述传输线链路用于实现超导电路与CMOS电路之间跨温区的信号传输。本发明能保证测试中超导芯片的高速、动态功能实现。
搜索关键词: 超导 电路 cmos 之间 跨温区互 联系 测试
【主权项】:
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