[发明专利]内存校验单元、方法及芯片在审
| 申请号： | 202210164203.9 | 申请日： | 2022-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN114546709A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 华庆明;凌纾 | 申请（专利权）人： | 杭州中天微系统有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 北京合智同创知识产权代理有限公司 11545 | 代理人： | 李杰;兰淑铎 |
| 地址： | 310012 浙江省杭州市西*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供了一种内存校验单元、方法及计算机存储介质，其中，内存校验单元包括：数据转换子单元，用于从总线接收向内存控制器传输的第一传输数据，并将所述第一传输数据转换为校验位宽数据，其中，所述校验位宽数据的位宽为所述总线位宽的一半；校验处理子单元，用于在每个校验位宽数据中，每隔一个字节插入位数与字节位数相同的校验数据，形成与所述总线位宽的位数相同的第二传输数据；向所述内存控制器发送所述第二传输数据。通过本申请实施例，无需增加额外的内存颗粒，也不影响内存架构，每8位即可实现SEC/DED的高数据安全等级。并且，实现简单，实现成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 内存 校验 单元 方法 芯片 | ||
【主权项】：
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