[发明专利]一种单元测试方法、系统、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210151068.4 | 申请日： | 2022-02-14 |
| 公开（公告）号： | CN114281709A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 任飞;杨智霖;谢辉 | 申请（专利权）人： | 湖南泛联新安信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 长沙市护航专利代理事务所(特殊普通合伙) 43220 | 代理人： | 莫晓齐 |
| 地址： | 410005 湖南省长沙市开福区伍家岭街道*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种单元测试方法、系统、电子设备及存储介质，该单元测试方法包括：获取待测程序；解析待测程序，提取待测程序的待测函数及待测函数的基础信息，并利用开源框架LLVM分析待测程序，将待测程序编译成LLVM中间码；根据每个待测函数的基础信息，对待测函数进行代码插桩，生成驱动函数；分析驱动函数，生成用于单元测试待测函数的测试用例；执行测试用例，反馈单元测试结果。该单元测试方法、系统、电子设备及存储介质，通过扩展优化LLVM中间码、编译前端的功能，让待测函数信息的收集自动化，同时让测试用例的生成和执行自动化，无需任何人工干预，保证系统在进行测试时的通用性和自动化程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单元测试 方法 系统 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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