[发明专利]一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法在审
| 申请号： | 202210121578.7 | 申请日： | 2022-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN114577347A | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 时海涛;杨训敏;郦翀;牛雪雷;孙艺哲 | 申请（专利权）人： | 艾迪科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/53 | 分类号： | G01J5/53 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 代丽 |
| 地址： | 100048 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于宽温度区间的制冷红外热像仪非均匀性校正方法。本发明首先将宽温度区间划分为不同温度子区间，然后在温度子区间内，用同一个积分时间进行不同温度下的成像，确保了该区间下的图像线性度，通过校正参数修正使图像在该温度区间下均匀。本发明解决了制冷红外热像仪随温度变化，非均匀性较差，图像输出质量不佳的问题，且校正数学模型简单，参数少，易于工程实现，为提高红外热像仪的温度分辨能力和图像质量提供了更好的支持。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 温度 区间 制冷 红外 热像仪非 均匀 校正 方法 | ||
【主权项】：
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