[发明专利]一种LVDT位移传感器的测试与分析装置有效
| 申请号： | 202210117265.4 | 申请日： | 2022-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN114216389B | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 陈广志;贾志宇;苏东林;翁友龙 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11987 | 代理人： | 史继颖 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LVDT位移传感器的测试与分析装置，包括：位移量标定与微调装置，用于对不同形状和大小的位移传感器进行夹持、位移量固定和位移量微调；工作原理分析装置，用于获取位移传感器信号处理电路的输入输出映射关系，进而分析其工作原理；传导敏感性测试与分析装置，用于对位移传感器进行注入传导敏感性测试和初级线圈谐波激励测试及相应的分析；磁场辐射敏感性测试与分析装置，用于对位移传感器进行磁场辐射敏感性测试与分析。通过本发明的技术方案，能够适应性地对各种形状和大小的LVDT位移传感器进行系统性的电磁敏感性测试与分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 lvdt 位移 传感器 测试 分析 装置 | ||
【主权项】：
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