[发明专利]一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统在审
| 申请号： | 202210108667.8 | 申请日： | 2022-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN116413527A | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 邓广宁;刘利杰;荣双龙;王旭平 | 申请（专利权）人： | 北京华航无线电测量研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所有限公司 11386 | 代理人： | 刘镜 |
| 地址： | 100013 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种电子产品加速贮存寿命试验评估系统，属于加速贮存寿命试验技术领域，解决了现有技术中国内电子产品贮存寿命试验能力与评价能力低的问题。该系统包括：高温箱，用于对待评估电子产品进行加热，以提供进行高温应力测试所需的高温应力环境；控制模块，用于控制并调节高温箱的温度，记录待评估电子产品在高温应力测试中出现的A类故障次数以及故障时间；故障输出模块，用于获取高温应力测试中出现的故障类型，并将该故障类型输出至控制模块；试验时间计算模块，用于根据发生A类故障的故障次数以及故障时间，计算常温应力下总试验时间；贮存寿命评估模块，用于根据常温应力下总试验时间评估电子产品贮存寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子产品 加速 贮存 寿命 试验 评估 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京华航无线电测量研究所，未经北京华航无线电测量研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210108667.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：具有多重振动部的微机电装置
- 下一篇：电连接器
