[发明专利]自动生成用于表面检查和零件对准的探测路径在审
申请号: | 202210104821.4 | 申请日: | 2022-01-28 |
公开(公告)号: | CN114818162A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | M.阿德里亚诺;L.桑德斯;R.M.斯塔布利 | 申请(专利权)人: | 欧特克公司 |
主分类号: | G06F30/17 | 分类号: | G06F30/17;G06F30/23;G06T17/20 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈金林 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用于自动生成用于表面检查和零件对准的探测路径的方法、系统和设备,包括介质编码的计算机程序产品。使用计算机控制的制造系统获得待制造零件的三维模型的至少一部分的网格模型。从所述网格模型中收集顶点作为所述计算机控制的制造系统的工作坐标系的三维空间中的初始探测点集合,并基于所述三维模型的所述至少一部分的覆盖范围从所述初始探测点集合中过滤出点,以产生最终探测点集合。提供所述最终探测点集合,用于由所述计算机控制的制造系统对所述零件进行对准或表面检查。 | ||
搜索关键词: | 自动 生成 用于 表面 检查 零件 对准 探测 路径 | ||
【主权项】:
暂无信息
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