[发明专利]一种微纳米光学薄膜承压曲张检测装置

摘要

本发明公开了一种微纳米光学薄膜承压曲张检测装置，包括机座，所述机座的上棱边上对称开设有两个转槽，每个所述转槽内均转动安装有控制轴，每个所述控制轴上均对称固定安装有两个第一调节臂，每个所述第一调节臂远离控制轴的一端均转动嵌设有第二调节臂，对称的两个所述第二调节臂远离第一调节臂的一端均共同转动安装有固定套。通过水平冲击检测的方式并通过双臂调节的方式增加冲击检测的范围，通过采用恒定摩擦力电磁弹射的方式并进行限位缓冲达到高精度调节冲击力的效果并提高安全性，通过对薄膜形变的多方位测量实现对薄膜形变量的计算分析，便于了解薄膜的承压性能。