[发明专利]一种快速全温光模块测试方法有效
| 申请号： | 202210073178.3 | 申请日： | 2022-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN114448497B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 傅琰 | 申请（专利权）人： | 上海剑桥科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/07 | 分类号： | H04B10/07;H04B10/079 |
| 代理公司： | 上海乐泓专利代理事务所(普通合伙) 31385 | 代理人： | 张雪 |
| 地址： | 201114 上海市闵行*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种快速全温光模块测试方法，包括以下步骤：S1、选取设定数量的光模块样本，建立温度校准函数关系式；S2、对待测试光模块进行高温校准和常温校准，并根据所述温度校准函数关系式进行低温校准；S3、对校准后的待测试光模块进行老化；S4、对老化后的待测试光模块进行全温验证。本发明在校准站位进行校准时，只需要对光模块进行常温校准和高温校准即可，低温时的产品参数则由温度校准函数关系式计算得到，其省略了光模块的低温校准测试操作，大幅减少了测试时间，提高了产能，从而达到降低生产成本，增强市场竞争力的结果。并且，通过验证站对光模块进行全温验证，其有效保证了光模块的性能和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 全温光 模块 测试 方法 | ||
【主权项】：
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