[发明专利]扫描测试电路、扫描测试方法及测试系统在审
| 申请号： | 202210072624.9 | 申请日： | 2022-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN114460448A | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 章其富 | 申请（专利权）人： | 芯盟科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 朱磊;浦彩华 |
| 地址： | 314400 浙江省嘉兴市海宁市海*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开实施例提供一种扫描测试电路，包括一个输入引脚、N个时钟控制单元及2N个移位单元，N为正整数；输入引脚接收测试输入信号，并输出至2N个移位单元；第M个时钟控制单元接收第一时钟信号并输出至第2M‑1个移位单元；第2M‑1个移位单元根据第一时钟信号和测试输入信号输出第一测试输出信号，根据接收的第一待测电路发送的第一反馈信号，输出第一测试结果；第M个时钟控制单元根据第一时钟信号，生成与第一时钟信号互补的第二时钟信号并输出至耦接的第2M个移位单元；第2M个移位单元根据第二时钟信号和测试输入信号输出第二测试输出信号，根据接收的第二待测电路发送的第二反馈信号，输出第二测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 扫描 测试 电路 方法 系统 | ||
【主权项】：
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