[发明专利]回归测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202210066502.9 | 申请日: | 2022-01-20 |
公开(公告)号: | CN114546830A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 张晓明;孟文龙 | 申请(专利权)人: | 北京百度网讯科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京鸿德海业知识产权代理有限公司 11412 | 代理人: | 谷春静 |
地址: | 100085 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本公开提供了回归测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及软件测试等互联网领域,其中的方法可包括:针对系统中需要进行回归测试的待测模块,从网络层录制对应的线上服务的真实流量,包括客户端请求流量以及下游依赖请求流量;基于客户端请求流量对待测模块对应的被测服务进行回放测试,并基于下游依赖请求流量对被测服务的下游依赖服务进行mock。应用本公开所述方案,可避免对服务造成侵入,并减小了通讯开销及确保了系统稳定性等。 | ||
搜索关键词: | 回归 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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