[发明专利]一种联合高斯过程的微带电路半空间映射快速优化方法在审

专利信息
申请号: 202210066482.5 申请日: 2022-01-20
公开(公告)号: CN114492253A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 喻梦霞;汪家兴;宁宇航 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06F30/30 分类号: G06F30/30
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 邓黎
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种联合高斯过程的微带电路半空间映射快速优化方法,属于微波射频电路的计算机辅助设计领域。该方法首先确定微带电路设计指标和需要优化的结构变量,构建粗模型;获得粗模型最佳设计尺寸;判断粗模型最佳设计尺寸是否满足设计指标,若是,则输出结果并结束流程,否则进入下一步;通过对优化方向的判断,按半星状分布选取初始的训练样本和减半的优化空间;训练半空间映射高斯过程模型;优化模型,预测下一代的最优结果并验证;若满足设计指标则结束流程并输出优化结果,否则进行参数提取并更新训练集,进行迭代优化。本发明能够很大程度地提高微带电路的设计效率,降低空间映射技术所需的训练样本数量,加快优化过程中的收敛速度。
搜索关键词: 一种 联合 过程 微带 电路 半空 映射 快速 优化 方法
【主权项】:
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