[发明专利]一种高精度激光纳米粒度仪在审
| 申请号： | 202210053043.0 | 申请日： | 2022-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN114371107A | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 刘焱;何永强 | 申请（专利权）人： | 苏州博飞克分析技术服务有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种高精度激光纳米粒度仪，包括计算机、第一数据采集模块、第一光电二极管、第一光纤、第一接线端子、安装板、凸透镜、样品室和激光源，安装板设置在凸透镜的一侧，样品室设置在凸透镜的另一侧，激光源隔样品室与凸透镜相对设置，激光源发出的激光穿过凸透镜照射在安装板的中部；第一接线端子设置在安装板的端部；通过设置步进电机、扇叶和凹透镜，凹透镜嵌置在扇叶中；步进电机旋转，凹透镜遮盖在第一接线端子上时，能够放大散射光，经过计算机的计算得出样品室中的颗粒值。当步进电机旋转，凸透镜偏离第一接线端子时，即可恢复正常的测量模式。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 激光 纳米 粒度 | ||
【主权项】：
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