[发明专利]一种分光光度的测量方法在审
| 申请号： | 202210033922.7 | 申请日： | 2022-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN114279990A | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 吕运昌;陈云龙;边宝丽;丁瑞峰;刘海波;朱鸿鑫;王林涛;冯峰;王明朗;邢芳玉;张玉珍;李擎;李丹;李娟;王宏伟;于峰;王海;付发明;廖祥林;蒋占军;黄振鹏 | 申请（专利权）人： | 北京华科仪科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/33;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京悦和知识产权代理有限公司 11714 | 代理人： | 司丽春 |
| 地址： | 100000 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明属于实验设备测量领域，具体涉及了一种分光光度的测量方法。本发明通过水平方向的平移测量和竖直方向的升降测量，再将数据进行优化处理，解决了单点或数点测量时，由于方形比色皿的平行度、壁厚不均匀以及频繁拿放导致放置位置不同等造成的误差，提高了测量准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 分光 光度 测量方法 | ||
【主权项】：
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