[发明专利]一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统有效
| 申请号： | 202210029730.9 | 申请日： | 2022-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN114452026B | 公开（公告）日： | 2023-10-10 |
| 发明（设计）人： | 吴晓君;才家华;周江平 | 申请（专利权）人： | 深圳北航新兴产业技术研究院;北京航空航天大学 |
| 主分类号： | A61C19/04 | 分类号： | A61C19/04;A61B5/0507;A61B5/00 |
| 代理公司： | 北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙) 11987 | 代理人： | 黄川;史继颖 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统，该检测系统利用太赫兹波较强的穿透性、非电离辐射特性、对龋病组织的敏感性以及龋病组织和健康组织的高对比度响应差异特性，实现了现有技术中难以做到的，对位置隐蔽、难以检测的早期釉质龋进行非电离辐射、准确、精准、直观地检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 赫兹 成像 釉质 检测 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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