[发明专利]eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202210021369.5 | 申请日： | 2022-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN114518981A | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 孙成思;孙日欣;赵颖 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 欧阳燕明 |
| 地址： | 518000 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种eMMC测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，接收待测eMMC芯片的稳态性能测试请求；根据所述稳态性能测试请求按照第一预设容量对所述待测eMMC芯片进行区域划分，得到划分后的待测eMMC芯片；对所述划分后的待测eMMC芯片按照第二预设容量进行数据读写操作，并保存所述数据读写操作对应的数据读写结果；基于所述数据读写结果确定所述稳态性能测试请求对应的稳态性能测试结果，以容量为测试维度进行测试，既能够测试eMMC芯片的稳态性能是否正常，也能够准确知道稳态性能是否下跌，并且相较于以时间为测试维度的测试方法更加便捷，降低了测试的繁琐程度，从而能够提高稳态性能测试的便捷性。 | ||
| 搜索关键词： | emmc 测试 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
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