[发明专利]测试方法、装置、存储介质及电子设备在审
申请号: | 202210003157.4 | 申请日: | 2022-01-04 |
公开(公告)号: | CN114185811A | 公开(公告)日: | 2022-03-15 |
发明(设计)人: | 程江民;韩俊 | 申请(专利权)人: | 北京字节跳动网络技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 | 代理人: | 温易娜 |
地址: | 100041 北京市石景山区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及一种测试方法、装置、存储介质及电子设备,以减少测试过程中用于测试数据获取的时间成本和人力成本,减少数据获取代码的冗余,提高测试效率。该方法包括:接收测试请求;响应于测试请求,从测试用例集中调用目标测试用例,目标测试用例基于待测业务场景所需的业务字段从测试数据模型层中调用关联的目标测试数据模型,测试数据模型用于维护具有业务关联性的业务字段,且业务字段与数据源层关联,数据源层用于为测试数据模型层中测试数据模型提供测试数据;通过目标测试数据模型中与待测业务场景相关的目标业务字段,从数据源层中获取目标业务字段对应的目标测试数据;基于目标测试数据运行目标测试用例得到测试结果。 | ||
搜索关键词: | 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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