[发明专利]使用多光子检测进行双梳距离计量的装置和方法在审
| 申请号： | 202180092389.5 | 申请日： | 2021-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN116829981A | 公开（公告）日： | 2023-09-29 |
| 发明（设计）人： | 尼古拉斯·约翰·韦斯顿;D·T·里德;H·赖特 | 申请（专利权）人： | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分类号： | G01S7/4861 | 分类号： | G01S7/4861 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 程强;谢攀 |
| 地址： | 英国格*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 描述了一种光学距离测量或测距装置。该装置包括至少一个光学脉冲发生器(30，32；80，94；120，122；180，202；300，320)，该至少一个光学脉冲发生器用于产生选通脉冲串和探测脉冲串，该选通脉冲串具有与该探测脉冲列不同的重复率。这些选通脉冲和探测脉冲可以是由不同的自由运行的锁模激光器产生的超短激光脉冲。还提供了一种光学探测布置，该光学探测布置用于将该探测脉冲串引导到一个或多个对象(42，44；84，86；188，190；232，234，236；306，310)并且用于收集从该一个或多个对象返回的返回探测脉冲。这些对象可以包括目标对象和参考对象。该装置包括多光子效应检测器(58；104；140；210；324，330)，并且被配置为将该选通脉冲串和这些返回探测脉冲二者引导到该多光子效应检测器。该装置可以用于工业检查、机器校准、位置测量等。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 光子 检测 进行 距离 计量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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