[发明专利]用于表征和编码光检测系统的方法和系统在审
申请号: | 202180084047.9 | 申请日: | 2021-10-27 |
公开(公告)号: | CN116583735A | 公开(公告)日: | 2023-08-11 |
发明(设计)人: | 大卫·A·罗伯茨;皮特·马赫;什列亚斯·巴班 | 申请(专利权)人: | 贝克顿·迪金森公司 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 侯丽英;程强 |
地址: | 美国新*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本公开的各个方面包括用于确定光电检测器(例如,在颗粒分析仪中的光电检测器)参数的方法。根据某些实施例的方法包括在第一预定时间间隔用光电检测器检测来自光源的光;用所述光电检测器检测阶跃信号,该阶跃信号指示光源的参数或光电检测器的参数的变化;在第二预定时间间隔检测来自光源的光;在所述第一预定时间间隔和所述第二预定时间间隔对数据信号进行积分;以及基于积分的数据信号确定所述光电检测器的一个或更多个参数。还描述了具有光源和用于实践本主题的方法的光电检测器的系统(例如,颗粒分析仪)。还提供了非暂时性计算机可读存储介质,其上存储有用于根据本主题的方法确定光电检测器的参数的指令。 | ||
搜索关键词: | 用于 表征 编码 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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