[发明专利]自动分析装置在审
| 申请号： | 202180052024.X | 申请日： | 2021-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN115885183A | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 横山耕平;八木贤一;青柳翔太 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;范胜杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在多个分析模块(13、14、15)中，分析不同的分析类别的2个以上的分析模块(13、14)构成1个组(16)，控制模块(10)关于分析模块(13、14)中的检体的分注处理完成后的搬送目的地，在与分析模块(13、14)相同的组(16)内存在能够分析未测定的分析项目的分析模块(13、14)的情况下，优先于其他的分析模块(15)，将分析模块(13、14)设为搬送目的地。由此，提供一种自动分析装置，其具备多个能够分析的项目不同的分析模块，在利用搬送模块连接该多个分析模块的自动分析装置中，能够比以往提高搬送效率，缩短到分析完成为止的时间。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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