[实用新型]一种集成电路测试装置有效
| 申请号： | 202122180957.7 | 申请日： | 2021-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN216387284U | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 赵义辉 | 申请（专利权）人： | 赵义辉 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;H05K7/20 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 050000 河*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路测试装置，涉及集成电路测试技术领域，包括测试装置主体，所述测试装置主体包括有旋钮、显示屏和支脚，所述显示屏固定安装在测试装置主体的正面上，所述支脚固定安装在测试装置主体的底部，所述测试装置主体的侧面固定安装有制冷装置，所述测试装置主体的内部设置有夹持机构。本实用新型通过利用照明管的照明，测试人员可以随时通过观察窗，对测试过程的监察，利用伸缩杆和夹持板对集成电路进行夹持固定，测试过程中，集成电路所漏出的电流可以通过绝缘组件进行吸收消化，在测试过程中产生的一些震动可以通过弹簧进行缓冲，从而达到了提高装置工作效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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