[实用新型]电子器件的测试装置有效

专利信息
申请号: 202121358252.3 申请日: 2021-06-18
公开(公告)号: CN216082997U 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 蔡逸峰;沈玉洁 申请(专利权)人: 无锡夏普显示科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;徐飞跃
地址: 214028 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供一种电子器件的测试装置,其包括:基座;以相对于转轴可转动的方式设置在所述基座上的盖板;和以可拆装的方式安装在所述盖板上的测试用电路板,在所述基座上形成有用于放置所述电子器件的柔性电路板的凹槽,所述凹槽的宽度与所述柔性电路板的宽度相一致,所述测试用电路板具有连接器,该连接器设置在所述测试用电路板的与所述凹槽相对的面上,且位于当所述盖板因转动而盖合于所述基座的状态下能够与被放置于所述凹槽中的待测试的所述柔性电路板上的连接端子电连接的位置。根据本实用新型,能够容易且高精度地将测试用电路板的连接器与柔性电路板上的连接端子连接,且能够大幅提高连接器的使用寿命。
搜索关键词: 电子器件 测试 装置
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