[实用新型]一种电子元器件自动测试包装机有效

专利信息
申请号: 202121114027.5 申请日: 2021-05-21
公开(公告)号: CN215098716U 公开(公告)日: 2021-12-10
发明(设计)人: 刘伟东;王文振 申请(专利权)人: 深圳市睿思半导体有限公司
主分类号: B65B55/00 分类号: B65B55/00;B08B5/02
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 冯建华;徐方星
地址: 518000 广东省深圳市光明区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种电子元器件自动测试包装机,涉及电子元器件技术领域。包括装置外壳和包装机,所述包装机左上端设置有电动风扇,所述装置外壳左下端设置有推尘机构,所述推尘机构包括推尘板、挡尘板和推杆,所述推尘板下端滑动安装于装置外壳底端内壁上,所述挡尘板右端嵌固于推尘板左上端,所述推杆右端嵌固于推尘板左端,所述挡尘板左端和推杆左端均穿过装置外壳左下端且滑动安装,所述推杆左端设置有动力机构。该电子元器件自动测试包装机,通过设置有电动风扇和推尘机构,使得在电动风扇对电子元器件进行风力除尘后,吹落的灰尘通过推尘机构推动,从而提高电子元器件在包装之前的整洁性,提高包装的工作效率。
搜索关键词: 一种 电子元器件 自动 测试 装机
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