[实用新型]一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩有效
| 申请号： | 202120703014.5 | 申请日： | 2021-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN214545335U | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 李冬;李超;邱忠云;余浪;吕清刚;易亮 | 申请（专利权）人： | 成都华芯天微科技有限公司 |
| 主分类号： | H05K9/00 | 分类号： | H05K9/00;H01Q1/12 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 李晓 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，涉及相控阵天线高低温试验用设备技术领域，主要用于解决相控阵天线在进行高低温试验时会受到温度试验箱影响，导致测试数据出现误差的问题。其主要结构为：包括测试罩主体，测试罩主体的一端设有锥形盖，另一端设有天线安装法兰环，测试罩主体和锥形盖内壁上皆设有吸波内衬，锥形盖轴心处设有直波导和测试接头。本实用新型提供的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，用该测试罩遮盖相控阵列天线，能使相控阵天线不再受温度试验箱带来的其它因素的影响，保证了温度试验测试数据的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 相控阵 天线 低温 试验 微波 屏蔽 测试 | ||
【主权项】：
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