[发明专利]一种物理层测试方法、装置、芯片及模组设备有效
| 申请号： | 202111676117.8 | 申请日： | 2021-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN114302436B | 公开（公告）日： | 2023-07-18 |
| 发明（设计）人： | 王鹏;索忠伟;汤坚 | 申请（专利权）人： | 紫光展锐（重庆）科技有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/02 | 分类号： | H04W24/02 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 张月婷 |
| 地址： | 400700 重庆市*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种物理层测试方法、装置、芯片及模组设备，该方法包括：获取测试例参数脚本文件，该测试例参数脚本文件包括下行信号的参数信息；确定该测试例参数脚本文件对应的数据结构信息，该数据结构信息用于指示多个测试例参数之间的关联关系；基于该数据结构信息确定功能应用平台接口FAPI消息，该FAPI消息用于指示物理层基于该FAPI消息生成下行信号；向该物理层发送该FAPI消息。基于本申请所描述的方法，能够提高物理层子系统的测试效率以及测试参数的可靠性，保证物理层子系统的完整性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 物理层 测试 方法 装置 芯片 模组 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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