[发明专利]一种红外吸收层及应用其的红外热电堆探测器、制作方法在审

专利信息
申请号: 202111672941.6 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN114152345A 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 宏宇;武斌 申请(专利权)人: 深圳市美思先端电子有限公司
主分类号: G01J5/12 分类号: G01J5/12;H01L35/02;H01L35/34
代理公司: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 代理人: 廉红果
地址: 518000 广东省深圳市光明区凤凰*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种红外吸收层及应用其的红外热电堆探测器、制作方法,包括钨层、第一氮化硅层、第一二氧化硅层和第二氮化硅层,所述钨层、第一氮化硅层、第一二氧化硅层和第二氮化硅层依次设置。本发明使用钨、氮化硅、二氧化硅材料构红外吸收层,引入CMOS常用材料钨,作为红外吸收层的组成部分,有效提高了硅复合膜结构的红外吸收效率,同时降低了同等吸收效率下红外吸收层的厚度与质量,钨通常作为CMOS工艺中通孔连接材料,可在CMOS工艺中完成集成电路的制备时,同时完成红外吸收层的制作,简化了红外探测器的制备流程,由于提高了红外吸收效率,红外探测器可在同等性能下缩小尺寸,进而降低成本。
搜索关键词: 一种 红外 吸收 应用 热电 探测器 制作方法
【主权项】:
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